Die Vereinigten Staaten unterstützen das Chips Metrology-Projekt mit einer Investition von 109 Millionen US-Dollar

Die US-Regierung wird 109 Millionen US-Dollar investieren, um das Chips Metrology-Projekt zu unterstützen. Ziel dieses Projekts ist die Erforschung und Entwicklung fortschrittlicher Messtechnologien zur Verbesserung der Genauigkeit und Qualität der Halbleiterfertigung. Dies wird dazu beitragen, die führende Position der Vereinigten Staaten in der Halbleiterindustrie zu stärken.