De Verenigde Staten steunen het Chips Metrology-project met een investering van 109 miljoen dollar

50
De Amerikaanse regering zal 109 miljoen dollar investeren om het Chips Metrology-project te ondersteunen. Dit project heeft tot doel geavanceerde metrologietechnologieën te onderzoeken en te ontwikkelen om de nauwkeurigheid en kwaliteit van de productie van halfgeleiders te verbeteren. Dit zal de leidende positie van de Verenigde Staten in de halfgeleiderindustrie helpen versterken.