Chuangrui Spectrum tiếp tục đầu tư vào nghiên cứu và phát triển để thúc đẩy ứng dụng công nghệ phát hiện khuyết tật wafer SiC

Chuangrui Spectrum gần đây đã hoàn thành vòng tài trợ Pre-A trị giá gần 100 triệu nhân dân tệ, với số vốn chủ yếu được sử dụng cho nghiên cứu phát triển công nghệ và mở rộng năng lực sản xuất. Giám đốc điều hành công ty, Tiến sĩ Chen Yuzhong cho biết họ đã đạt được những bước đột phá công nghệ đáng kể trong lĩnh vực phát hiện khuyết tật của tấm wafer SiC và đã phát triển thành công nhiều loại thiết bị đặc biệt để giải quyết vấn đề phát hiện không phá hủy các khuyết tật lệch vị trí trên đế SiC. Hiện tại, dòng thiết bị kiểm tra DiSpec của họ đã được triển khai và bắt đầu giao hàng cho các khách hàng hàng đầu trong nước và quốc tế. Trong tương lai, công ty sẽ sử dụng vòng tài trợ này để tiếp tục tăng cường đầu tư vào nghiên cứu và phát triển, thúc đẩy ứng dụng công nghệ phát hiện khuyết tật wafer SiC và công nghệ phát hiện tấm quang điện perovskite, đồng thời đạt được mục tiêu xuất xưởng số lượng lớn.