Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. und Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. teilen sich den China Patent Excellence Award
Kristalloptoelektronik
Kontrolle
Xi'an
Xi'an Yisiwei
Yi
China
Patent
Gerät
meins
gemeinsam
Technologie
Ausrüstung
Entwicklung
2024-12-25 19:47
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Die von Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. und Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. gemeinsam entwickelte Technologie „Methode, Gerät, Ausrüstung und Computerspeichermedium zur Kontrolle des Kristallwachstumsdurchmessers“ hat es ihnen ermöglicht, gemeinsam zu gewinnen der 25. China Patent Excellence Award. Der Erfolg dieses Kooperationsmodells hat auch anderen Unternehmen der Branche neue Entwicklungsideen beschert.
