compartilham o Prêmio de Excelência em Patentes da China

A tecnologia de "método de controle de diâmetro de crescimento de cristal, dispositivo, equipamento e meio de armazenamento de computador" desenvolvida em conjunto pela Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. e Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. o 25º Prêmio de Excelência em Patentes da China. O sucesso deste modelo de cooperação proporcionou novas ideias de desenvolvimento para outras empresas do setor.