Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. och Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. delar China Patent Excellence Award
Yijing-teknik
Saida Semiconductor
Kristalloptoelektronik
Materia
Teknik
del
gång
Xi'an
Xi'an Yisiwei
företag
meter
Yi
veck
gemensam
lag
Silicon Wafer
Silicon Wafer
utrustning
lagring
Fram
Fram
tv
ram
utveckla
bra
2024-12-25 19:47
0
Tekniken för "kontroll av kristalltillväxtdiameter, enhet, utrustning och datorlagringsmedium" som utvecklats gemensamt av Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. och Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. har gjort det möjligt för dem att gemensamt vinna den 25:e China Patent Excellence Award. Framgången med denna samarbetsmodell har gett nya utvecklingsidéer för andra företag i branschen.
