Η Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. και η Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. μοιράζονται το China Patent Excellence Award

Η τεχνολογία "μέθοδος ελέγχου διαμέτρου κρυστάλλου, συσκευή, εξοπλισμός και μέσο αποθήκευσης υπολογιστή" που αναπτύχθηκε από κοινού από την Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. και την Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. τους επέτρεψε να κερδίσουν από κοινού το 25ο Βραβείο Αριστείας Ευρεσιτεχνίας της Κίνας. Η επιτυχία αυτού του μοντέλου συνεργασίας έχει προσφέρει νέες ιδέες ανάπτυξης για άλλες εταιρείες του κλάδου.