Компания Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. и компания Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. разделили награду за выдающиеся достижения в области патентов Китая

Технология «метода, устройства, оборудования и компьютерного носителя информации для контроля диаметра роста кристаллов», совместно разработанная компаниями Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. и Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd., позволила им совместно выиграть 25-я премия Китая за выдающиеся достижения в области патентов. Успех этой модели сотрудничества предоставил новые идеи развития для других компаний отрасли.