Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. ve Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd., Çin Patent Mükemmellik Ödülünü paylaştı

Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. ve Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. tarafından ortaklaşa geliştirilen "kristal büyüme çapı kontrol yöntemi, cihaz, ekipman ve bilgisayar depolama ortamı" teknolojisi, onların ortaklaşa kazanmalarını sağladı 25. Çin Patent Mükemmellik Ödülü. Bu iş birliği modelinin başarısı, sektördeki diğer firmalara da yeni geliştirme fikirleri sağladı.