Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. i Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. dijele China Patent Excellence Award

Tehnologija "Metoda kontrole promjera rasta kristala, uređaj, oprema i računalni medij za pohranu" koju su zajednički razvili Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. i Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. omogućila im je zajedničku pobjedu 25. kineska nagrada za izvrsnost u patentima. Uspjeh ovog modela suradnje pružio je nove razvojne ideje drugim tvrtkama u industriji.