Pekin Üniversitesi ekibi, GaN tabanlı güç cihazlarının dinamik eşik voltajı kayması problemini çözdü

Pekin Üniversitesi araştırma ekibi, metal/yalıtım katmanı/p-GaN'den oluşan yeni bir cihaz yapısı önererek GaN tabanlı güç cihazlarının dinamik eşik voltaj kayması problemini başarıyla çözdü. Bu teknoloji yalnızca 20V'a yakın kapı voltajı yedekliliği sağlamakla kalmaz, aynı zamanda dinamik eşik voltajı kaymasını da ortadan kaldırır.