Forschungsteam der Universität Peking meistert erfolgreich drei große technische Herausforderungen von GaN-basierten Leistungsgeräten

Forschungsteams der School of Integrated Circuits und der School of Physics der Universität Peking haben große Durchbrüche bei der Erforschung von GaN-basierten Leistungsbauelementen erzielt. Sie haben die drei großen technischen Herausforderungen Frequenzengpass, Zuverlässigkeitsengpass und Spannungsfestigkeitsengpass erfolgreich gelöst und fünf hochrangige Artikel auf internationalen Konferenzen zu elektronischen Geräten veröffentlicht.