Het onderzoeksteam van de Universiteit van Peking doorbreekt met succes drie grote technische uitdagingen van op GaN gebaseerde energieapparaten

Onderzoeksteams van de School of Integrated Circuits en de School of Physics van de Universiteit van Peking hebben grote doorbraken bereikt in het onderzoek naar op GaN gebaseerde energieapparaten. Ze hebben met succes de drie grote technische uitdagingen opgelost: frequentieknelpunt, betrouwbaarheidsknelpunt en spanningsbestendig knelpunt, en hebben vijf artikelen op hoog niveau gepubliceerd op internationale conferenties over elektronische apparaten.