SiC материалын судалгааны шинэ дэвшил

Сүүлийн үеийн судалгааны ахиц дэвшил нь CnCV технологи болон QUAD зураглалын технологийг сайжруулснаар SiC материалын шинж чанарыг илүү нарийвчлалтай ойлгож, хэмжиж болохыг харуулж байна. Энэ нь SiC материалыг автомашины болон бусад үйлдвэрүүдэд ашиглахад туслах болно.