Новый прогресс в исследованиях материалов SiC

0
Недавние исследования показывают, что, совершенствуя технологию CnCV и технологию картирования QUAD, мы можем более точно понимать и измерять свойства материалов SiC. Это будет способствовать развитию применения материалов SiC в автомобильной и других отраслях промышленности.