Jauns progress SiC materiālu izpētē

0
Jaunākie pētījumi liecina, ka, uzlabojot CnCV tehnoloģiju un QUAD kartēšanas tehnoloģiju, mēs varam precīzāk izprast un izmērīt SiC materiālu īpašības. Tas palīdzēs veicināt SiC materiālu izmantošanu automobiļu un citās nozarēs.