Echipa de cercetare a Universității Peking depășește blocajul tehnic al dispozitivelor de alimentare bazate pe GaN

În ultimii cinci ani, echipa de cercetare a Școlii de Circuite Integrate a Universității din Peking și a Centrului Avansat de Inovare al Circuitelor Integrate a rezolvat cu succes cele trei provocări tehnice majore ale dispozitivelor de alimentare bazate pe GaN: blocaj de frecvență, blocaj de fiabilitate și blocaj de rezistență la tensiune. . Prin metode inovatoare, au realizat integrarea punților de înaltă tensiune și integrarea CMOS de joasă tensiune și au dezvoltat dispozitive de înaltă tensiune bazate pe GaN de 10.000 de volți. Aceste rezultate ale cercetării se află într-o poziție de lider la nivel global și cinci lucrări de înaltă calitate au fost publicate la conferințe internaționale privind dispozitivele electronice.