Даследчая група Пекінскага ўніверсітэта ліквідуе тэхнічнае вузкае месца прылад харчавання на аснове GaN

За апошнія пяць гадоў даследчая група Школы інтэгральных схем Пекінскага ўніверсітэта і Цэнтра перадавых інавацый інтэгральных схем паспяхова вырашыла тры асноўныя тэхнічныя праблемы прылад харчавання на аснове GaN: частата вузкае месца, вузкае месца надзейнасці і вузкае месца вытрымкі напружання . З дапамогай інавацыйных метадаў яны дасягнулі інтэграцыі высокавольтнага моста і нізкавольтнай інтэграцыі CMOS, а таксама распрацавалі высакавольтныя прылады на аснове 10 000 вольт GaN. Гэтыя вынікі даследаванняў займаюць лідзіруючыя пазіцыі ў свеце, а пяць высакаякасных артыкулаў былі апублікаваны на міжнародных канферэнцыях па электронных прыладах.