三星電子高頻寬記憶體未通過英偉達測試

據報道，三星電子的高頻寬記憶體（HBM）在4月底未能通過英偉達的測試。儘管英偉達CEO黃仁勳曾對三星電子的HBM3E表示認可，但測試結果並不理想。三星電子對此回應稱，測試仍在進行中，尚未結束。然而，這項消息並未提振公司股價，市場反應冷淡。