A memória de alta largura de banda da Samsung Electronics falha no teste da Nvidia

A memória de alta largura de banda (HBM) da Samsung Electronics falhou nos testes da Nvidia no final de abril. Embora o CEO da Nvidia, Jen-Hsun Huang, tenha expressado uma vez sua aprovação ao HBM3E da Samsung Electronics, os resultados do teste não foram ideais. A Samsung Electronics respondeu que o teste ainda está em andamento e ainda não terminou. Contudo, a notícia não impulsionou o preço das ações da empresa e a reação do mercado foi morna.