A Samsung Electronics nagy sávszélességű memóriája megbukott az Nvidia tesztjén
ideális autó
A
vezérigazgató
HBM
Samsung
rész
teszt
folyamat
Samsung
piac
Jen-Hsun Huang
sávszélesség
év
igazgató
ár
2024-12-27 20:19
98
A Samsung Electronics nagy sávszélességű memóriája (HBM) a hírek szerint április végén megbukott az Nvidia tesztjein. Bár az Nvidia vezérigazgatója, Jen-Hsun Huang egyszer egyetértésével fejezte ki a Samsung Electronics HBM3E-jét, a teszteredmények nem voltak ideálisak. A Samsung Electronics azt válaszolta, hogy a teszt még folyamatban van, és még nem ért véget. A hír azonban nem lendítette fel a cég részvényeinek árfolyamát, a piac reakciója pedig langyos volt.
