ຄວາມຈຳແບນວິດສູງຂອງ Samsung Electronics ລົ້ມເຫລວໃນການທົດສອບ Nvidia

ຫນ່ວຍຄວາມ ຈຳ ແບນວິດສູງ (HBM) ຂອງ Samsung Electronics ລາຍງານວ່າລົ້ມເຫລວການທົດສອບຂອງ Nvidia ໃນທ້າຍເດືອນເມສາ. ເຖິງແມ່ນວ່າ CEO Nvidia Jen-Hsun Huang ເຄີຍສະແດງການອະນຸມັດ HBM3E ຂອງ Samsung Electronics, ແຕ່ຜົນການທົດສອບແມ່ນບໍ່ເຫມາະສົມ. Samsung Electronics ຕອບວ່າການທົດສອບຍັງຢູ່ໃນຂັ້ນຕອນແລະຍັງບໍ່ທັນສິ້ນສຸດ. ຢ່າງໃດກໍ່ຕາມ, ຂ່າວບໍ່ໄດ້ເພີ່ມລາຄາຫຼັກຊັບຂອງບໍລິສັດແລະປະຕິກິລິຍາຂອງຕະຫຼາດແມ່ນອ່ອນເພຍ.