Memori bandwidth tinggi Samsung Electronics gagal dalam tes Nvidia

Memori bandwidth tinggi (HBM) Samsung Electronics dilaporkan gagal dalam pengujian Nvidia pada akhir April. Meski CEO Nvidia Jen-Hsun Huang pernah menyatakan persetujuannya terhadap HBM3E Samsung Electronics, hasil pengujiannya tidak ideal. Samsung Electronics menjawab bahwa pengujian masih berlangsung dan belum berakhir. Namun, kabar tersebut tidak mendongkrak harga saham perusahaan dan reaksi pasar pun suam-suam kuku.