حافظه با پهنای باند بالا سامسونگ الکترونیکس در تست انویدیا شکست خورد

گزارش شده است که حافظه با پهنای باند بالا (HBM) سامسونگ الکترونیکس در آزمایشات انویدیا در پایان ماه آوریل شکست خورد. اگرچه جن-هسون هوانگ، مدیر عامل انویدیا، یک بار تایید خود را از HBM3E سامسونگ الکترونیک ابراز کرد، اما نتایج آزمایش ایده آل نبود. سامسونگ الکترونیکس پاسخ داد که تست هنوز در حال انجام است و هنوز به پایان نرسیده است. اما این خبر باعث افزایش قیمت سهام این شرکت نشد و واکنش بازار چندان گرم بود.