GEZE FTIR udstyr til måling af filmtykkelse er blevet leveret til mange kendte virksomheder

GEZEs FTIR-filmtykkelsesmåleudstyr er blevet leveret til mange velkendte halvledervirksomheder såsom centrale virksomheder, statsejede virksomheder og børsnoterede wafervirksomheder og bruges til batchmåling af epitaksiale lag af siliciumcarbid og siliciumwafers.