世芯電子成功流片2nm測試晶片，預計明年公佈結果

高效能ASIC設計服務廠商世芯電子（Alchip）近日宣布，已成功流片一款2nm測試晶片，預計明年第一季將公佈結果。世芯正與客戶合作開發高性能2nm ASIC，成為首批採用革命性奈米片（GAA）電晶體架構的IC創新者。此測試晶片包括高速SRAM、自動佈局佈線設計、矽性能監控器以及Lite I/O與電源域集成，可處理3DIC選項。