Shixin Electronics a réussi à réaliser une puce de test de 2 nm et devrait annoncer les résultats l'année prochaine

Alchip, un fournisseur de services de conception d'ASIC hautes performances, a récemment annoncé avoir réussi à réaliser une puce de test de 2 nm, et les résultats devraient être annoncés au premier trimestre de l'année prochaine. Sechip travaille avec ses clients pour développer des ASIC 2 nm hautes performances, devenant ainsi les premiers innovateurs de circuits intégrés à adopter l'architecture révolutionnaire des transistors nanofeuilles (GAA). La puce de test comprend une SRAM haute vitesse, une conception de placement et d'acheminement automatisée, des moniteurs de performances en silicium et une intégration d'E/S Lite et de domaine d'alimentation pour gérer les options 3DIC.