Shixin Electronics ha realizzato con successo un chip di test da 2 nm e si prevede che annuncerà i risultati il ​​prossimo anno

Alchip, un fornitore di servizi di progettazione ASIC ad alte prestazioni, ha recentemente annunciato di aver realizzato con successo un chip di test da 2 nm e i risultati dovrebbero essere annunciati nel primo trimestre del prossimo anno. Sechip sta lavorando con i clienti per sviluppare ASIC da 2 nm ad alte prestazioni, diventando i primi innovatori di circuiti integrati ad adottare la rivoluzionaria architettura dei transistor nanosheet (GAA). Il chip di test include SRAM ad alta velocità, progettazione place-and-route automatizzata, monitor delle prestazioni del silicio e I/O Lite e integrazione del dominio di alimentazione per gestire le opzioni 3DIC.