Shixin Electronics teipis edukalt välja 2 nm testkiibi ja eeldatavasti avaldab tulemused järgmisel aastal

Suure jõudlusega ASIC-disainiteenuse pakkuja Alchip teatas hiljuti, et on edukalt lindistanud 2 nm testkiibi ja tulemused avaldatakse eeldatavasti järgmise aasta esimeses kvartalis. Sechip töötab koos klientidega suure jõudlusega 2 nm ASIC-ide väljatöötamiseks, saades esimesteks IC uuendajateks, kes võtavad kasutusele revolutsioonilise nanolehe (GAA) transistori arhitektuuri. Testkiip sisaldab kiiret SRAM-i, automaatset koha- ja marsruudikujundust, räni jõudlusmonitore ning Lite I/O ja toitedomeeni integratsiooni 3DIC-valikute käsitlemiseks.