Samsung Electronics eitab kuulujutte 3nm vahvlite tootmisdefektidest

Samsung Electronics eitas hiljuti jõuliselt kuulujutte oma valukoja 3-nanomeetriliste vahvlite tootmisel esinevatest defektidest. Varem teatati, et teise põlvkonna 3-nanomeetrilise protsessi 2500 partii defektid on toonud kaasa 1 triljoni vonni suuruse kahju, mis nõuab mõjutatud vahvlite kõrvaldamist. Samsung väitis vastu, et need väited on "alusetud" ja ütles, et 3-nanomeetrine toodang ei ole veel jõudnud 60 000 vahvlini kuus ja et protsess peab veel läbima erinevaid kontrolle.