Fyrirtækið hefur áður nefnt að það hafi nú þegar vörur fyrir lithography jöfnun skoðunarvélar og hefur unnið tilboðið í Shanghai Xinwei hálfleiðara innkaupaverkefnið Hvaða hlutverki gegnir lithography jöfnunar skoðunarvélin í hinum ýmsu ferlistengjum um borð í hálfleiðurum. Hverjar eru horfur á innlendum staðgöngum? Takk

Tianjue Technology: Halló, þakka þér fyrir athygli þína á fyrirtækinu okkar. MueTec vann tilboðið í nýjan ör-yfirlags villumælingarbúnað Shanghai árið 2021. Yfirlagsvillumælingarbúnaður er aðallega notaður til að mæla stillingarvilluna á milli fram- og bakstafla í hálfleiðaraframleiðsluferlinu. Yfirlagsvillumælingarbúnaðurinn getur náð yfir 65-90nm ferlihnúta fyrirtækisins og MueTec-teymið vinna saman að því að þróa yfirborð villumælingarbúnað fyrir fullkomnari ferla.