บริษัทได้กล่าวไว้ก่อนหน้านี้ว่าบริษัทมีผลิตภัณฑ์เครื่องตรวจสอบการจัดแนวลิโธกราฟีแล้ว และชนะการประมูลโครงการจัดซื้อของ Shanghai Xinwei Semiconductor เครื่องตรวจสอบการจัดแนวลิโธกราฟีมีบทบาทอย่างไรในกระบวนการต่างๆ ของลิโธกราฟีเซมิคอนดักเตอร์ออนบอร์ด? การทดแทนภายในประเทศมีแนวโน้มเป็นอย่างไร? ขอบคุณ

Tianjue Technology: สวัสดี ขอบคุณที่ให้ความสนใจบริษัทของเรา MueTec ชนะการประมูลอุปกรณ์วัดข้อผิดพลาดแบบไมโครโอเวอร์เลย์ใหม่ของเซี่ยงไฮ้ในปี 2021 อุปกรณ์วัดข้อผิดพลาดของโอเวอร์เลย์ส่วนใหญ่ใช้เพื่อวัดข้อผิดพลาดในการจัดตำแหน่งระหว่างสแต็กด้านหน้าและด้านหลังในกระบวนการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ อุปกรณ์วัดข้อผิดพลาดของโอเวอร์เลย์ของ MueTec สามารถครอบคลุมโหนดกระบวนการ 65-90 นาโนเมตร ทีมงานซูโจวของบริษัทและทีมงาน MueTec กำลังทำงานร่วมกันเพื่อพัฒนาโอเวอร์เลย์ อุปกรณ์วัดข้อผิดพลาดสำหรับกระบวนการขั้นสูง