Perusahaan tersebut sebelumnya telah menyebutkan bahwa mereka telah memiliki produk mesin inspeksi penyelarasan litografi dan telah memenangkan tender untuk proyek pengadaan Shanghai Xinwei Semiconductor. Apa peran mesin inspeksi penyelarasan litografi dalam berbagai mata rantai proses litografi semikonduktor onboard? Bagaimana prospek substitusi dalam negeri? Terima kasih

Tianjue Technology: Halo, terima kasih atas perhatian Anda terhadap perusahaan kami. MueTec memenangkan tawaran untuk peralatan pengukuran kesalahan lapisan mikro baru di Shanghai pada tahun 2021. Peralatan pengukuran kesalahan overlay terutama digunakan untuk mengukur kesalahan penyelarasan antara tumpukan depan dan belakang dalam proses manufaktur semikonduktor. Peralatan pengukuran kesalahan overlay MueTec dapat mencakup node proses 65-90nm. Tim Suzhou perusahaan dan tim MueTec bekerja sama untuk mengembangkan overlay peralatan pengukuran kesalahan untuk proses yang lebih maju.