¿Pueden los productos de detección de macro defectos de la filial de la empresa muetec realizar la inspección de obleas durante el proceso de litografía?

Tianjue Technology: Hola, gracias por su atención a nuestra empresa. Los productos de MueTec están orientados a la medición e inspección de obleas frontales de semiconductores, entre los que se encuentran las series Argos y Rembrandt, equipos de detección de macrodefectos. La inspección durante el proceso de fotolitografía es la detección microscópica de defectos.