Могут ли продукты обнаружения макродефектов дочерней компании muetec осуществлять проверку пластин в процессе литографии?

Tianjue Technology: Здравствуйте, спасибо за внимание к нашей компании. Продукция MueTec предназначена для измерения и проверки пластин полупроводникового интерфейса, среди которых серии Argos и Rembrandt представляют собой оборудование для обнаружения макродефектов. Контроль в процессе фотолитографии представляет собой микроскопическое обнаружение дефектов.