Produsele de detectare a defectelor macro ale filialei companiei muetec pot realiza inspecția plachetelor în timpul procesului de litografie?

Tehnologia Tianjue: Bună ziua, vă mulțumim pentru atenția acordată companiei noastre. Produsele MueTec vizează măsurarea și inspecția plăcilor frontale de semiconductor, printre care seria Argos și seria Rembrandt sunt echipamente de detectare a defectelor macro. Inspecția în timpul procesului de fotolitografie este detectarea microscopică a defectelor.