Các sản phẩm phát hiện lỗi vĩ mô của công ty con muetec có thể thực hiện kiểm tra wafer trong quá trình quang khắc không?

Tianjue Technology: Xin chào, cảm ơn bạn đã quan tâm đến công ty chúng tôi. Các sản phẩm của MueTec hướng đến mục đích đo lường và kiểm tra các tấm wafer bán dẫn đầu cuối, trong đó dòng Argos và dòng Rembrandt là thiết bị phát hiện lỗi vĩ mô. Kiểm tra trong quá trình quang khắc là phát hiện khuyết tật ở mức độ vi mô.