Bisakah produk deteksi cacat makro dari anak perusahaan muetec mewujudkan inspeksi wafer selama proses litografi?

Tianjue Technology: Halo, terima kasih atas perhatian Anda terhadap perusahaan kami. Produk MueTec ditujukan untuk pengukuran dan inspeksi wafer ujung depan semikonduktor, di antaranya seri Argos dan seri Rembrandt yang merupakan peralatan deteksi cacat makro. Pemeriksaan selama proses fotolitografi adalah deteksi cacat mikroskopis.