შეუძლია თუ არა კომპანიის შვილობილი Muetec-ის მაკრო დეფექტების აღმოჩენის პროდუქტებს ვაფლის ინსპექტირების განხორციელება ლითოგრაფიის პროცესში?

Tianjue Technology: გამარჯობა, გმადლობთ ჩვენი კომპანიის მიმართ ყურადღებისთვის. MueTec-ის პროდუქცია მიზნად ისახავს ნახევარგამტარული წინა ბოლო ვაფლების გაზომვას და შემოწმებას, რომელთა შორისაა Argos სერია და Rembrandt სერიები მაკრო დეფექტების გამოვლენის მოწყობილობა. ფოტოლითოგრაფიის პროცესში ინსპექტირება არის მიკროსკოპული დეფექტის გამოვლენა.