Kan die makro defek opsporing produkte van die maatskappy se filiaal muetec realiseer wafer inspeksie tydens die litografie proses?

Tianjue Tegnologie: Hallo, dankie vir u aandag aan ons maatskappy. MueTec se produkte is gemik op die meting en inspeksie van halfgeleier-voorkant-wafers, waaronder die Argos-reeks en Rembrandt-reeks makro-defek-opsporingstoerusting is. Inspeksie tydens die fotolitografie proses is mikroskopiese defek opsporing.