Samsung emit Lasertec summus NA EUV persona instrumentum inspectionis

LG parem in Actis Lasertec emit A300, instrumentum inspectionis in persona High-NA EUV. Inspicientes personas semiconductores utentes Instrumenta Archi-NA EUV dicata meliorem discrepantiam possunt a plus quam 30% instrumentis dedicatis translaticiis EUV comparati.