世芯电子成功流片2nm测试芯片，预计明年公布结果

高性能ASIC设计服务厂商世芯电子（Alchip）近日宣布，已成功流片一款2nm测试芯片，预计明年第一季度将公布结果。世芯正与客户合作开发高性能2nm ASIC，成为首批采用革命性纳米片（GAA）晶体管架构的IC创新者。该测试芯片包括高速SRAM、自动布局布线设计、硅性能监控器以及Lite I/O与电源域集成，能处理3DIC选项。