Infineon lansează un nou standard de testare de fiabilitate MOSFET cu carbură de siliciu

Infineon a dezvoltat un set unic de standarde de testare de fiabilitate pentru produsele sale MOSFET SiC, inclusiv testul de stres al porții (GSS) și testul ciclului de temperatură și umiditate AC (AC-HTC) la frecvența de comutare de 500 kHz. Aceste teste sunt concepute pentru a asigura o fiabilitate mai mare a MOSFET-urilor SiC în aplicații în industrii precum cea auto.