Infineon пуска нов тестов стандарт за надеждност на MOSFET от силициев карбид

Infineon разработи уникален набор от стандарти за изпитване на надеждност за своите SiC MOSFET продукти, включително стрес тест на вратата (GSS) и AC-тест за влажност и температурен цикъл (AC-HTC) при честота на превключване от 500 kHz. Тези тестове са предназначени да гарантират по-висока надеждност на SiC MOSFET в приложения в индустрии като автомобилостроенето.