Infineon uvádza na trh nový štandard testovania spoľahlivosti MOSFET z karbidu kremíka

Spoločnosť Infineon vyvinula jedinečný súbor štandardov testovania spoľahlivosti pre svoje produkty SiC MOSFET, vrátane záťažového testu brány (GSS) a testu striedavého prúdu vlhkosti a teploty (AC-HTC) pri spínacej frekvencii 500 kHz. Tieto testy sú navrhnuté tak, aby zabezpečili vyššiu spoľahlivosť SiC MOSFET v aplikáciách v odvetviach, ako je automobilový priemysel.