Az Infineon új szilícium-karbid MOSFET megbízhatósági tesztszabványt vezet be

Az Infineon egyedülálló megbízhatósági tesztszabványokat fejlesztett ki SiC MOSFET termékeihez, beleértve a kapu stressztesztjét (GSS) és a váltóáramú páratartalom és hőmérséklet ciklustesztjét (AC-HTC) 500 kHz-es kapcsolási frekvencián. Ezeket a teszteket úgy tervezték, hogy biztosítsák a SiC MOSFET-ek nagyobb megbízhatóságát az olyan iparágakban, mint az autóipar.