Infineon lansira novi standard testiranja pouzdanosti MOSFET silicij karbida

Infineon je razvio jedinstveni skup standarda za ispitivanje pouzdanosti za svoje SiC MOSFET proizvode, uključujući test naprezanja vrata (GSS) i test ciklusa AC-vlažnosti i temperature (AC-HTC) na frekvenciji prebacivanja od 500 kHz. Ovi testovi su osmišljeni kako bi se osigurala veća pouzdanost SiC MOSFET-a u primjenama u industrijama kao što je automobilska.