Infineon ເປີດຕົວມາດຕະຖານການທົດສອບຄວາມຫນ້າເຊື່ອຖືຂອງ silicon carbide MOSFET ໃຫມ່

Infineon ໄດ້ພັດທະນາມາດຕະຖານການທົດສອບຄວາມຫນ້າເຊື່ອຖືທີ່ເປັນເອກະລັກສໍາລັບຜະລິດຕະພັນ SiC MOSFET ຂອງຕົນ, ລວມທັງການທົດສອບຄວາມກົດດັນປະຕູ (GSS) ແລະ AC-ຄວາມຊຸ່ມຊື່ນແລະການທົດສອບວົງຈອນອຸນຫະພູມ (AC-HTC) ຢູ່ 500kHz ຄວາມຖີ່ຂອງການສະຫຼັບ. ການທົດສອບເຫຼົ່ານີ້ຖືກອອກແບບມາເພື່ອຮັບປະກັນຄວາມຫນ້າເຊື່ອຖືທີ່ສູງຂຶ້ນຂອງ SiC MOSFETs ໃນຄໍາຮ້ອງສະຫມັກໃນອຸດສາຫະກໍາເຊັ່ນ: ລົດຍົນ.