Infineon استاندارد جدید تست قابلیت اطمینان کاربید سیلیکون MOSFET را راه اندازی کرد

Infineon مجموعه منحصربفردی از استانداردهای تست قابلیت اطمینان را برای محصولات SiC MOSFET خود ایجاد کرده است، از جمله تست تنش دروازه (GSS) و تست رطوبت و چرخه دما AC (AC-HTC) در فرکانس سوئیچینگ 500 کیلوهرتز. این آزمایش‌ها برای اطمینان از قابلیت اطمینان بالاتر ماسفت‌های SiC در کاربردهای صنایعی مانند خودروسازی طراحی شده‌اند.