Infineon უშვებს სილიციუმის კარბიდის MOSFET-ის საიმედოობის ტესტის ახალ სტანდარტს

Infineon-მა შეიმუშავა საიმედოობის ტესტის სტანდარტების უნიკალური ნაკრები თავისი SiC MOSFET პროდუქტებისთვის, მათ შორის კარიბჭის სტრესის ტესტი (GSS) და AC-ტენიანობის და ტემპერატურის ციკლის ტესტი (AC-HTC) 500 kHz გადართვის სიხშირეზე. ეს ტესტები შექმნილია SiC MOSFET-ების უფრო მაღალი საიმედოობის უზრუნველსაყოფად ისეთ ინდუსტრიებში, როგორიცაა ავტომობილები.